ATR附件儀器介紹

是用于定性定量常規(guī)檢測(cè)液體、粉末、溶膠、糊狀物、聚合物薄膜等樣品的化學(xué)成分的儀器。它適用于反射分析法（衰減全反射ATR）圖譜采集，并且有7次內(nèi)部反射保證高靈敏度的低濃度的測(cè)量。這款附件的核心部件是多次衰減全反射棱鏡，為了達(dá)到全反射效果棱鏡采用折射率比樣品更高的材質(zhì)，棱鏡是跟框架構(gòu)成一體可以更換的部件，置于附件外殼上方，可以隨時(shí)拆卸以便清洗或者更換。

在使用ATR附件之前，需要先將其安裝到傅里葉變換紅外光譜儀上。ATR附件在出廠之前就已經(jīng)安裝并通過測(cè)試，但是在不同的光譜儀上，其光路會(huì)略有不同，因此在具體使用時(shí)需要進(jìn)行調(diào)解，使其達(dá)到最佳狀態(tài)。具體的安裝步驟如下：

步驟1：安裝ATR附件

在附件插入樣品倉之前，請(qǐng)首先確認(rèn)光譜儀能量最大。然后將附件裝入樣品倉。附件在底座兩側(cè)及上方有四個(gè)調(diào)節(jié)螺釘，可以通過手動(dòng)調(diào)節(jié)左右兩側(cè)螺釘和鐘表改錐調(diào)節(jié)底座上方的頂絲調(diào)節(jié)附件光路。

步驟2：采樣

單次反射ATR附件可以測(cè)量各種形態(tài)的樣品，包括液體、粘性物質(zhì)、柔軟韌性薄膜和固體。在采集常規(guī)液體樣品時(shí)，在嵌入槽中滴入一滴樣品采集即可。但是，在采集后清除樣品時(shí)需倍加小心以防晶體表面被劃傷。

步驟3：測(cè)試

測(cè)試時(shí)，樣品與ATR晶體的接觸面積很小，通過施加壓力，可以使樣品與晶體緊密接觸。單次反射ATR附件適用于測(cè)試固體、纖維、硬的聚合物、漆片、玻璃或金屬表面的薄膜、微量液體等樣品。

步驟4：清洗

清洗晶體時(shí)應(yīng)該選用柔軟的鏡頭紙沾濕溶劑輕輕擦拭。嵌入槽和晶體都應(yīng)該用適當(dāng)?shù)臏睾偷娜軇┎潦茫缫掖蓟蛘弑Ｓ袝r(shí)候，會(huì)因?yàn)闆]有清洗晶體而產(chǎn)生樣品污染，這時(shí)，可以首先用新樣品清洗一下晶體，再做采樣，這樣可以有效地較低前面樣品對(duì)新樣品的影響。